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泰克公司榮獲英特爾首選優(yōu)質(zhì)供應商獎
日前榮獲英特爾公司2008年首選優(yōu)質(zhì)供應商(PQS)獎，以表彰泰克全年為英特爾所做出的巨大貢獻。泰克公司為英特爾提供優(yōu)質(zhì)的驗證測試設備，對英特爾的成功至關重要。與泰克一同獲得2008年PQS獎項的還有另外25家供應商。
2009-03-13
測試設備 英特爾 泰克 邏輯分析儀 示波器
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愛普科斯(EPCOS)輸出端過壓保護參考設計
雷擊產(chǎn)生的浪涌電壓會對電子設備帶來危害，EPCOS輸出端過壓保護參考設計ProShot 6000可保護家電免受電壓浪涌致命影響。
2009-03-13
雷擊 EPCOS 浪涌 電路保護 ProShot 6000 壓敏電阻 氣體放電管
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愛普科斯(EPCOS)輸出端過壓保護參考設計
雷擊產(chǎn)生的浪涌電壓會對電子設備帶來危害，EPCOS輸出端過壓保護參考設計ProShot 6000可保護家電免受電壓浪涌致命影響。
2009-03-13
雷擊 EPCOS 浪涌 電路保護 ProShot 6000 壓敏電阻 氣體放電管
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中國電子展推出三大技術采購研討會
中國電子展推出三大技術采購研討會
2009-03-12
中國電子展推出三大技術采購研討會
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中國電子展深圳舉行 三大技術采購研討會
中國電子展深圳舉行 三大技術采購研討會
2009-03-12
中國電子展深圳舉行 三大技術采購研討會
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中國電子展深圳舉行 三大技術采購研討會
中國電子展深圳舉行 三大技術采購研討會
2009-03-12
中國電子展深圳舉行 三大技術采購研討會
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飛利浦MASTER LED憑出色設計和耐用性再獲兩大獎
近日，飛利浦MASTER LED獲得法國設計研究中心（Institute Francais du Design）及巴黎國際酒店及餐飲設備展（Equip''''''''Hotel Paris）榮譽。
2009-03-12
MASTER LED LED 飛利浦 照明
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USB 3.0測試標準將于09年6月底出臺
新一代USB“USB 3.0”的兼容性測試標準有望于2009年上半年出臺。參與測試標準制定的美國安捷倫科技（Agilent Technologies）表示，預定于09年6月底之前推出“Test Specification 1.0”。這是安捷倫公司的USB應用產(chǎn)品經(jīng)理Jim Choate在09年3月6日于東京都內(nèi)舉行的研討會“USB 3.0―SuperSpeed USB的沖擊”上...
2009-03-12
USB 3.0 測試儀器
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Si7137DP：Vishay新型P 通道功率MOSFET
日前，Vishay Intertechnology, Inc.（NYSE 股市代號：VSH）發(fā)布采用其新型 p 通道 TrenchFET第三代技術的首款器件 --- Si7137DP，該 20V p通道 MOSFET 采用 SO-8 封裝，具備業(yè)內(nèi)最低的導通電阻。
2009-03-12
TrenchFET Si7137DP MOSFET 導通電阻 開關
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