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為什么GaN用于D類放大器獨有優(yōu)勢

發(fā)布時間:2020-05-29 責任編輯:lina

【導讀】傳統(tǒng)的音頻放大技術是一個充滿挑戰(zhàn)的領域,發(fā)燒友們對于構成家庭音頻最佳設置的要素有明顯不同意見。對于那些堅持使用經典放大器拓撲架構的用戶,他們的要求主要集中體現(xiàn)在準確的音頻再現(xiàn)方面,而幾乎不考慮解決方案的整體用電效率。
  
傳統(tǒng)的音頻放大技術是一個充滿挑戰(zhàn)的領域,發(fā)燒友們對于構成家庭音頻最佳設置的要素有明顯不同意見。對于那些堅持使用經典放大器拓撲架構的用戶,他們的要求主要集中體現(xiàn)在準確的音頻再現(xiàn)方面,而幾乎不考慮解決方案的整體用電效率。雖然這在家庭音頻環(huán)境中完全合理,但在許多其它應用中都要求較高的放大器效率。這或許是為了節(jié)省能源,并延長電池壽命,或是為了減少散熱,從而使產品更致密、更緊湊。
 
音頻放大器有幾種基本類型,包括A類、AB類和B類,它們都利用其晶體管的線性區(qū)域,并以最小失真完美地再現(xiàn)輸入音頻信號。研究表明,這種設計理論上可以實現(xiàn)高達80%的效率,但實際上,它們的效率約為65%或更低。在當今由電池供電的智能手機、數(shù)字增強型無繩電信(DECT)手機和藍牙揚聲器等電子產品中,效率低下會對電池壽命產生巨大影響。像在電子行業(yè)的大多數(shù)其他領域(如電源轉換器)一樣,使用開關技術,而非線性技術的設計方法似乎能夠有望實現(xiàn)突破。
 
D類放大器首先是在上世紀50年代出現(xiàn),它使用一對開關器件進行推/挽配置(圖1)。脈沖寬度調制(PWM)信號占空比由輸入音頻信號控制,可確保開關器件處于打開或關斷狀態(tài),從而將其線性區(qū)域的操作保持在最低水平。這不僅能夠實現(xiàn)100%的理論效率,而且還具有零失真的潛力。 
 
為什么GaN用于D類放大器獨有優(yōu)勢
 
當時,市場上只有鍺晶體管,但是它經過證明不適合這種開關拓撲架構的需求,因此早期的放大器設計并不成功。直到后來,隨著MOSFET技術的出現(xiàn),D類設計才得起死回生。如今,此類放大器因其高能效而在各個領域得到廣泛應用。在當今的平板電視和汽車音響控制單元等設計中,緊湊性是一項非常迫切的要求,D類放大器在其中也很受歡迎,因為它通常不需要笨重的散熱器。
 
基于GaN的高電子遷移率晶體管(HEMT)是一種新技術,可用作D類設計中的開關器件,并可提供更高的效率和音頻質量。
 
滿足D類放大器的需求
 
為了能夠接近D類放大器理論上的高性能,開關器件需要具備低導通電阻,以最大程度地降低I2R損耗。GaN器件具有比Si MOSFET低得多的導通電阻,并且可以通過較小的芯片面積實現(xiàn)。反過來,這種小芯片封裝也可以幫助設計師將更多緊湊型放大器推向市場。
 
開關損耗是另一個需要充分考慮的因素。在中、高功率輸出時,D類放大器的性能非常出眾。但是,由于功率器件中的損耗,功率輸出最低時的效率也最低。
 
為了克服這一挑戰(zhàn),一些D類放大器采用兩種工作模式。在播放低音量音頻時,這種多級技術限制了功率器件可以切換到的輸出電壓。一旦輸出音量達到設定的閾值,開關的輸出電壓軌就會增大,從而可提供完整的電壓擺幅。為了進一步降低開關損耗的影響,在低輸出量時可以使用零電壓開關(ZVS)技術,而在高功率水平時改為硬開關。
 
當使用Si MOSFET實施時,由于功率器件關斷和導通時輸出的非零電壓,硬開關模式會導致體二極管中產生電荷累積。之后,積累的反向恢復電荷(Qrr)需要放電,這其中需要的時間在PWM控制實施過程中應該考慮。而如果采用GaN進行設計,則沒有這個問題,因為這些晶體管沒有固有的體二極管,因此也就沒有Qrr,這樣可以實現(xiàn)更高的總體效率、改進的失真系數(shù)以及更清晰的開關波形。
 
放大器在零電壓開關模式下工作時,由于輸出的轉變是通過電感電流換向來實現(xiàn),可有效消除開關中的開關損耗和由此產生的功率損失。然而,與所有半橋設計一樣,需要考慮直通(shoot-through)問題,即高側和低側開關同時導通的現(xiàn)象。通??梢圆迦胍粋€稱為消隱時間(blanking time)的短延遲,以確保其中一個開關在導通之前另一個開關完全關斷。需要注意的是,該延遲會影響 PWM 信號,導致音頻輸出失真,因此設計中的一個目標是盡可能縮短延遲,以維持音頻保真度。該延遲的長度取決于功率器件的輸出電容Coss。雖然GaN晶體管尚未完全消除Coss,但明顯低于Si MOSFET器件。因此,使用 GaN 時,其較短的消隱時間會導致更小的放大器失真。
 
盡管上面提到的改進,這種電容中儲存的能量仍有待處理,在下一個導通周期中被消耗掉。但是這些損耗的影響在較高開關頻率下尤其明顯,因此基于 GaN 的設計比 Si放大器具有更高的效率。
 
如何實現(xiàn)GaN 的優(yōu)勢
 
GaN HEMT 晶體管與 Si MOSFET 命名其各個端子的方式完全相同,具有柵極、漏極和源極。借助于柵極和源極之間的二維電子氣體(2DEG),它們實現(xiàn)了極低電阻,由于提供有電子池,因此可有效地實現(xiàn)短路。當不加柵極偏壓(VGS = 0V)時,p-GaN柵極將停止導通。GaN HEMT 是雙向器件,這一點與硅器件不同。因此,如果允許漏極電壓降至源極電壓以下,則可能會產生反向電流。GaN HEMT 晶體管具有潔凈的開關波形,這也是其優(yōu)勢所在,主要是沒有Si MOSFET中常見的體二極管(圖2)。這是與 PN 結相關的大量開關噪聲的原因。

為什么GaN用于D類放大器獨有優(yōu)勢

業(yè)界已經證實,在無散熱片情況下,D類放大器設計可向8Ω負載提供160W功率。一種此類原型采用了IGT40R070D1 E8220 GaN HEMT與200V D類驅動器IRS20957S(圖3),這種特殊的開關其RDS(on)(max)僅為70mΩ。如果使用散熱器,則放大器可以輸出高達250W的功率,并且在100W時達到非常卓越的0.008%THD+N。從零電壓開關到硬開關可能會導致THD+N測量值出現(xiàn)駝峰。工作在500 kHz頻率時,該設計沒有表現(xiàn)出明顯的失真變化(發(fā)生在幾瓦情況下),并且硬開關區(qū)域保持非常安靜和清潔。
 
為什么GaN用于D類放大器獨有優(yōu)勢
 
總結
多年來,設計人員一直在使用Si MOSFET 進行 D 類放大器設計,這要歸功于其在性能優(yōu)化方面不斷取得的進步。然而,要進一步改進Si MOSFET功能和特性已經非常困難。此外,降低RDS(on)將需要更大的晶片尺寸,導致更難以構建緊湊的音頻放大器設計。然而,GaN HEMT突破了這一限制,同時也消除了Qrr,再加上較低的Coss以及在較高開關頻率下運行的能力,可以創(chuàng)建體積更小、更加緊湊的設計,通常情況下無需使用散熱器。所進行的 THD+N 測量還表明,這項新技術可以實現(xiàn)出色的音頻性能。
(來源:EEWORLD,作者: 英飛凌科技D類音頻首席工程師Jun Honda,系統(tǒng)應用工程師Pawan Garg)
 
  
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