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第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

發(fā)布時(shí)間:2025-02-14 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】SiC芯片可以高溫工作,與之對應(yīng)的連接材料和封裝材料都需要相應(yīng)的變更。三菱電機(jī)高壓SiC模塊支持175℃工作結(jié)溫,其封裝技術(shù)相對傳統(tǒng)IGBT模塊封裝技術(shù)做了很大改進(jìn),本文帶你詳細(xì)了解內(nèi)部的封裝技術(shù)。


SiC芯片可以高溫工作,與之對應(yīng)的連接材料和封裝材料都需要相應(yīng)的變更。三菱電機(jī)高壓SiC模塊支持175℃工作結(jié)溫,其封裝技術(shù)相對傳統(tǒng)IGBT模塊封裝技術(shù)做了很大改進(jìn),本文帶你詳細(xì)了解內(nèi)部的封裝技術(shù)。


為了實(shí)現(xiàn)低碳社會,能夠高效電能變換的電力電子技術(shù)正在擴(kuò)展到消費(fèi)、工業(yè)、電氣化鐵路、汽車、太陽能發(fā)電和風(fēng)力發(fā)電等各個(gè)領(lǐng)域。其中,功率模塊在控制電流方面發(fā)揮著重要作用,需要減少運(yùn)行過程中的損耗,減小封裝尺寸,并提高功率密度。近年來備受關(guān)注的SiC(碳化硅)與以往的Si(硅)相比具有高速開關(guān)且低損耗的特點(diǎn),能夠飛躍性地提高性能,因此被期待為下一代的功率器件。此外,由于SiC能夠高溫工作,因此可以通過減小封裝尺寸來促進(jìn)功率單元的小型化,但為此,需要開發(fā)能夠應(yīng)對高溫工作的封裝材料和結(jié)構(gòu)。


在封裝開發(fā)過程中,我們提高了鍵合材料和灌封材料等各部件的耐熱性,并開發(fā)了對應(yīng)的工藝技術(shù),特別是提高了對溫度循環(huán)壽命有影響的鍵合部位的可靠性,實(shí)現(xiàn)了高質(zhì)量和高可靠性。通過應(yīng)用這些技術(shù),我們開發(fā)了一種支持芯片工作溫度(Tjop)175℃高溫運(yùn)行的封裝。


圖1顯示了開發(fā)的高溫工作全SiC功率模塊(FMF185/375/750DC-66A)的封裝外觀,圖2顯示了主要結(jié)構(gòu)(示意圖)。作為支持175℃高溫運(yùn)行的封裝結(jié)構(gòu),在底板上使用耐高溫焊錫來連接耐高溫絕緣基板,在絕緣基板上使用Ag燒結(jié)技術(shù)鍵合芯片。芯片上面的電極和絕緣基板金屬層用Al線連接,與外部電氣連接的電極與絕緣基板金屬層進(jìn)行US鍵合。外殼安裝在底板上,內(nèi)部填充了耐高溫灌封材料。


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

圖1:適用于高溫工作的封裝外觀



第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

圖2:高溫運(yùn)行封裝截面圖


當(dāng)考慮芯片的高溫運(yùn)行時(shí),由于傳統(tǒng)焊料在芯片鍵合時(shí)的物理限制,因此需要新的鍵合材料和合適的工藝。本公司開發(fā)了使用Ag粒子燒結(jié)鍵合工藝,實(shí)現(xiàn)了耐高溫、高品質(zhì)化。


Ag燒結(jié)連接工藝進(jìn)行多個(gè)芯片的批量鍵合。因此,在高溫工作封裝中,相對于以往封裝,芯片尺寸縮小,研究了在4×3的芯片排列中高密度化統(tǒng)一鍵合。圖3顯示了通過Ag燒結(jié)進(jìn)行批量鍵合后的SAT(Scanning Acoustic Tomography)圖像,圖4顯示了鍵合截面圖像。從SAT圖像和截面圖像的結(jié)果來看,鍵合處沒有空隙或龜裂等,可以確認(rèn)鍵合狀態(tài)良好。因此,在高溫工作封裝中,通過Ag燒結(jié)實(shí)現(xiàn)了芯片的高密度化和高質(zhì)量的鍵合。


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

圖3:Ag燒結(jié)批量鍵合后的SAT圖像


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

圖4:Ag燒結(jié)后的橫截面圖像


過去一直使用AlN(氮化鋁)陶瓷的絕緣基板,此次研究了采用Si3N4(氮化硅)陶瓷的耐高溫絕緣基板作為新材料。為了評價(jià)耐高溫性能,對AlN絕緣基板和Si3N4絕緣基板實(shí)施溫度循環(huán)試驗(yàn),使溫度變化為-40~175℃(ΔT=215K),對陶瓷部分和基板金屬層的鍵合部裂紋變化進(jìn)行檢測、確認(rèn)。結(jié)果,如圖5所示,AlN絕緣基板的陶瓷部分出現(xiàn)龜裂,而Si3N4絕緣基板在600個(gè)循環(huán)后也未發(fā)生龜裂,實(shí)現(xiàn)了耐高溫、高可靠性。


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

圖5(a):溫度循環(huán)測試后的絕緣基板截面圖-AlN基板


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

圖5(b):溫度循環(huán)測試后的絕緣基板截面圖-Si3N4基板


連接絕緣基板和底板的焊料必須保持鍵合處無裂紋,以保證對基板的散熱,防止芯片過熱。因此,我們研究選擇了耐久性、耐熱性的RoHS焊錫材料。對于耐高溫焊料,在表1所示的混合元素基礎(chǔ)上添加了多種元素,以提高鍵合壽命,使其符合絕緣基板和底板的機(jī)械物理性能。使用選定的焊料,將Si3N4絕緣基板和底板連接起來,并進(jìn)行了溫度循環(huán)試驗(yàn),其中溫度變化為-40~175℃(ΔT=215K)。結(jié)果,即使在600次循環(huán)后,也沒有觀察到鍵合處出現(xiàn)裂紋,并驗(yàn)證了它可以作為耐高溫焊料使用(圖6)。


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

表1:耐高溫焊錫材料的主要混合元素和效果


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

圖6:溫度循環(huán)測試后的焊接層截面圖


傳統(tǒng)用于電氣連接到外部的電極是使用焊料鍵合到絕緣基板金屬層。然而,隨著功率密度的增加,由于電極電阻成分引起的發(fā)熱和電極與基板金屬的鍵合部分溫度上升成為問題,因此需要提高高溫循環(huán)下的鍵合壽命。因此,我們利用US(超聲波)焊接技術(shù)將電極與基板金屬直接鍵合在一起,并通過去除焊料提高了鍵合強(qiáng)度,從而在高溫循環(huán)中提高了電極與絕緣基板的鍵合壽命。


為了實(shí)現(xiàn)功率模塊的更高工作溫度,我們不斷開發(fā)器件封裝技術(shù)。表2顯示了從傳統(tǒng)封裝到高溫運(yùn)行封裝的技術(shù)。除了引進(jìn)Ag燒結(jié)鍵合、耐高溫絕緣基板、耐高溫焊錫材料、電極US鍵合相關(guān)技術(shù)外,為支持高溫運(yùn)行功率模塊的商業(yè)化,創(chuàng)新的封裝設(shè)計(jì)、材料及制造工藝的開發(fā)是至關(guān)重要的。


第15講:高壓SiC模塊封裝技術(shù)

表2:傳統(tǒng)封裝與高溫運(yùn)行封裝的區(qū)別


今后,本公司將以多年積累的功率模塊封裝技術(shù)及量產(chǎn)技術(shù)為基礎(chǔ),加速開發(fā)新一代高溫運(yùn)行且高品質(zhì)的功率模塊,同時(shí)繼續(xù)推進(jìn)商業(yè)化,為實(shí)現(xiàn)環(huán)保及節(jié)能社會做出貢獻(xiàn)。

文章來源:三菱電機(jī)半導(dǎo)體


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