電路設(shè)計(jì)必知:電子元器件的故障特點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間:2014-10-14 責(zé)任編輯:sherryyu
【導(dǎo)讀】工程師都知道電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件數(shù)量是不可小覷的,所以特別害怕在電路設(shè)計(jì)中測(cè)試的那個(gè)環(huán)節(jié),因?yàn)槌鲥e(cuò)了就可能是某個(gè)電子元器件出現(xiàn)故障,很難排除。其實(shí)大可不必害怕,電子元器件雖然數(shù)量多,但其故障卻是有規(guī)律可循的。
電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量多,但其故障卻是有規(guī)律可循的。
1.電阻損壞的特點(diǎn)
電阻是電器設(shè)備中數(shù)量最多的元件,但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開(kāi)路最,阻值變大較少見(jiàn),阻值變小十分少見(jiàn)。的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險(xiǎn)電阻幾種。前兩種電阻應(yīng)用最廣,其損壞的特點(diǎn)一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ)的損壞率較高,阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞;二是低阻值電阻損壞時(shí)往往是燒焦發(fā)黑,很發(fā)現(xiàn),而高阻值電阻損壞時(shí)很少有痕跡。線繞電阻用作大電流限流,阻值不大。圓柱形線繞電阻燒壞時(shí)有的會(huì)發(fā)黑或表面爆皮、裂紋,有的沒(méi)有痕跡。水泥電阻是線繞電阻的一種,燒壞時(shí)會(huì)斷裂,否則也沒(méi)有可見(jiàn)痕跡。保險(xiǎn)電阻燒壞時(shí)有的表面會(huì)炸掉一塊皮,有的也沒(méi)有什么痕跡,但絕不會(huì)燒焦發(fā)黑。根據(jù)特點(diǎn),在檢查電阻時(shí)可有所側(cè)重,快速找出損壞的電阻。
2.電解電容損壞的特點(diǎn)
電解電容在電器設(shè)備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn):
一是失去容量或容量變?。?/div>
二是輕微或嚴(yán)重漏電;
三是失去容量或容量變小兼有漏電。
查找損壞的電解電容方法有:
(1)看:有的電容損壞時(shí)會(huì)漏液,電容下面的電路板表面甚至電容外表都會(huì)有一層油漬,這種電容絕對(duì)不能再用;有的電容損壞后會(huì)鼓起,這種電容也不能繼續(xù)使用;因此,在前期選擇電容的時(shí)候,就應(yīng)該把好質(zhì)量關(guān),盡量選擇知名品牌的電容,如電容巨頭——國(guó)巨電容。
(2)摸:開(kāi)機(jī)后有些漏電嚴(yán)重的電解電容會(huì)發(fā)熱,用手指觸摸時(shí)甚至?xí)C手,這種電容更換;
(3)電解電容內(nèi)部有電解液,長(zhǎng)時(shí)間烘烤會(huì)使電解液變干,導(dǎo)致電容量減小,要重點(diǎn)檢查散熱片及大功率元器件附近的電容,離其越近,損壞的性就越大。
3.二、三極管等半導(dǎo)體器件損壞的特點(diǎn)
二、三極管的損壞是PN結(jié)擊穿或開(kāi)路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)時(shí)正常,工作一段時(shí)間后,發(fā)生軟擊穿;另一種是PN結(jié)的特性變差,用萬(wàn)用表R×1k測(cè),各PN結(jié)均正常,但上機(jī)后不能正常工作,用R×10或R×1低量程檔測(cè),就會(huì)發(fā)現(xiàn)其PN結(jié)正向阻值比正常值大。測(cè)量二、三極管可以用指針萬(wàn)用表在路測(cè)量,較準(zhǔn)確的方法是:將萬(wàn)用表置R×10或R×1檔(用R×10檔,不明顯時(shí)再用R×1檔)在路測(cè)二、三極管的PN結(jié)正、反向電阻,正向電阻不太大(正常值),反向電阻足夠大(正向值),表明該P(yáng)N結(jié)正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測(cè)。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐,用萬(wàn)用表低阻值檔在路測(cè)量,可以基本忽略外圍電阻對(duì)PN結(jié)電阻的影響。
4.集成電路損壞的特點(diǎn)
集成電路內(nèi)部結(jié)構(gòu),功能,一部分損壞都無(wú)法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩(wěn)定性不良。徹底損壞時(shí),可將其拆下,與正常同型號(hào)集成電路對(duì)比測(cè)其每一引腳對(duì)地的正、反向電阻,總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對(duì)熱穩(wěn)定性差的,可以在設(shè)備工作時(shí),用無(wú)水酒精冷卻被懷疑的集成電路,故障發(fā)生時(shí)間推遲或不再發(fā)生故障,判定。通常只能更換新集成電路來(lái)排除。
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