干貨 | 電路故障分析與定位的常用方法
發(fā)布時(shí)間:2019-07-11 責(zé)任編輯:lina
【導(dǎo)讀】電路的故障類型較多,產(chǎn)生故障的原因也各有不同,因此排除故障的方法也不一樣。當(dāng)電路發(fā)生故障時(shí),根據(jù)故障現(xiàn)象,通過檢查、測(cè)量,分析故障產(chǎn)生的原因并確定故障的部位,找到發(fā)生故障的元器件的過程。
電路的故障類型較多,產(chǎn)生故障的原因也各有不同,因此排除故障的方法也不一樣。當(dāng)電路發(fā)生故障時(shí),根據(jù)故障現(xiàn)象,通過檢查、測(cè)量,分析故障產(chǎn)生的原因并確定故障的部位,找到發(fā)生故障的元器件的過程。
一般比較簡(jiǎn)單的電路,其故障原因往往也比較簡(jiǎn)單,故障的分析與定位較容易;而較為復(fù)雜的電路,其故障往往也較為復(fù)雜,故障原因的分析與定位相對(duì)也就要困難一些。下面討論電路故障分析與定位的常用方法。
直接觀察法
所謂直接觀察法是指不借助于任何的儀器設(shè)備,直接觀察待查電路的表面來發(fā)現(xiàn)問題、尋找故障的方法,一般分為靜態(tài)觀察和通電檢查兩種,其中的靜態(tài)觀察包括如下幾方面內(nèi)容。
1.觀察印制及元器件表面是否有燒焦的印跡,連線及元器件是否有脫落、斷裂等現(xiàn)象發(fā)生。
2.觀察儀器使用情況。儀器類型選擇是否合適,功能、量程的選用有無差錯(cuò),共地連接的處理是否妥善等。首選排除外部故障,再進(jìn)行電路本身的觀察。
3.觀察電路供電情況。電源的電壓值和極性是否符合要求,電源是否已確實(shí)接入了電路等。
4.觀察元器件安裝情況。電解電容的極性、二極管和三極管的引線端子、的引線端子有無接錯(cuò)、漏接、互碰等情況,安裝位置是否合理,對(duì)于擾源有無屏蔽措施等。
5.觀察布線情況。輸入和輸出線、強(qiáng)電和弱點(diǎn)線、交流和直流線等是否違反布線原則。
靜態(tài)觀察后可進(jìn)行通電檢查。接通電源后,觀察元器件有無發(fā)燙、冒煙等情況,變壓器有無焦味或發(fā)熱及異常聲響。
直接觀察法適用于對(duì)故障進(jìn)行初步檢查,可以發(fā)現(xiàn)一些較明細(xì)的故障。
儀器測(cè)試法
斷電測(cè)試法
是在電路斷電條件下,利用萬用表歐姆檔測(cè)量電路或元器件電阻值,借以判斷故障的方法。
如檢查電路中連線、焊點(diǎn)及熔絲等是否斷路,測(cè)量電阻值、電容器漏電、電感器的通斷,檢查半導(dǎo)體器件的好壞等。
測(cè)試時(shí),為了避免相關(guān)支路的影響,被測(cè)元器件的一端一般應(yīng)與電路斷開,同時(shí),為了保護(hù)元器件,不要使用高阻擋和低阻擋,以防止高電壓或大電流損壞電路中半導(dǎo)體器件的PN結(jié)。
帶電測(cè)試法
是一種在電路帶電條件下,借助于儀器測(cè)量電路中各點(diǎn)靜態(tài)電壓值或電壓波形等,并進(jìn)行理論分析,尋找故障所在部位的方法。
如檢查晶體管靜態(tài)工作點(diǎn)是否正常,集成器件的靜態(tài)參數(shù)是否符合要求,數(shù)字電路的邏輯關(guān)系是否正確等。
信號(hào)尋跡法
是根據(jù)需要在電路輸入端加入符合要求的信號(hào),按照信號(hào)的流程從前級(jí)到后級(jí),用示波器或電壓表等儀器逐級(jí)檢查信號(hào)在電路內(nèi)各部分黃子健傳輸?shù)那闆r,分析ID安路的功能是否正常,從而判斷故障所在部位。
通常應(yīng)在電路靜態(tài)工作點(diǎn)處于正常的條件下使用這種方法。
分割測(cè)試法
對(duì)于一些有反饋的環(huán)形電路,它們各級(jí)的工作情況互有牽連,這時(shí)可以采用分割環(huán)路的方法,將反饋環(huán)去掉,然后逐級(jí)檢查,可以更快的查出故障部位。
對(duì)自激振蕩現(xiàn)象也可以用這種方法檢查。
對(duì)比法
懷疑某一電路存在問題時(shí),可找一個(gè)相同的正常電路進(jìn)行比對(duì),將兩者的狀態(tài)、參數(shù)進(jìn)行逐項(xiàng)對(duì)比,很快就可以找到電路中不正常的參數(shù),進(jìn)而分析出故障原因并查找到故障點(diǎn)。
替代法
有時(shí)故障比較隱蔽,不能很快找到,需要進(jìn)一步檢查,這時(shí)可用已調(diào)試好的單元電路或組件代替有疑問的單元電路,以此來判斷是否出在此單元電路。
在確定了有問題的單元電路后,還可以在該單元電路中采用局部替代法,用確認(rèn)良好的元器件將懷疑有問題的元器件替代下來,逐步縮小故障的懷疑范圍,最終找到故障點(diǎn)。
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