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近場(chǎng)探棒如何用才可找出輻射源?
發(fā)布時(shí)間:2017-03-17 責(zé)任編輯:sherry
【導(dǎo)讀】近場(chǎng)探棒如何用才可找出輻射源?近場(chǎng)探棒在找出電路板、纜線和外殼中的電磁輻射源時(shí)相當(dāng)有用;但某些狀況下,經(jīng)過(guò)近場(chǎng)探棒偵測(cè)而顯示在頻譜分析儀上的信號(hào),會(huì)產(chǎn)生誤導(dǎo)。通過(guò)一些經(jīng)驗(yàn),你將知道如何克服這些問(wèn)題。
近場(chǎng)探棒為疑難解答工具,首先你必須確定產(chǎn)品有電磁干擾的問(wèn)題,通常會(huì)在兼容性測(cè)試(compliance test )或預(yù)先認(rèn)證(pre-compliance)檢測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)。應(yīng)先透過(guò)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量,找出超過(guò)法規(guī)限制輻射量要求的頻率,然后再找出輻射源。
產(chǎn)品調(diào)試測(cè)試––電路板
假設(shè)你的產(chǎn)品超過(guò)輻射標(biāo)準(zhǔn),而且您試圖找出原因,可試試以下方法。若想找到電路板的輻射源,你可能需要在頻譜分析儀上連接一個(gè)簡(jiǎn)單的磁場(chǎng)探棒 (圖1),然后手動(dòng)拿著探棒在電路板四處檢測(cè),或是使用自動(dòng)探棒測(cè)試器(automated probe station)近距離檢查。當(dāng)探棒掃過(guò)電路板時(shí),頻譜分析儀將會(huì)顯示振幅最大的干擾諧波(offending harmonics)在何處。當(dāng)你發(fā)現(xiàn)高次諧波(higher harmonic)時(shí),你就會(huì)說(shuō)“啊哈,我找到它了。”
圖1 近場(chǎng)探棒組可能包含三種尺寸的磁場(chǎng)探棒(H-Field) 及一組電場(chǎng)探棒(E-Field) 。
在你真的確認(rèn)是否有遠(yuǎn)場(chǎng)干擾輻射源前,必須考慮以下兩件事:
哪些因素造成探棒找到這些信號(hào)?
測(cè)試的地點(diǎn)是否為傳播場(chǎng)(propagating field) ?
磁場(chǎng)由電流所產(chǎn)生,在已知頻率下無(wú)論電流多高,你可在頻譜分析儀上看到測(cè)量出的峰值(peak)。高電流的狀況可能會(huì)發(fā)生在電路板的線路上或是芯片內(nèi)部等。
你必須注意印刷電路板的堆疊方式,用近場(chǎng)探棒檢測(cè)層數(shù)較少的電路板較為容易。然而,碰到線路密度分布高的電路板,特別是堆疊很多層的板子,還有在不同層采用不同電流源的狀況下,透過(guò)近場(chǎng)探棒作檢測(cè)會(huì)變得比較困難,需要特別留意與分析。
這里有其它可能原因造成高頻時(shí)產(chǎn)生高電流的狀況。如果你只是在離電路板高一點(diǎn)的位置找高近場(chǎng)(high near-fields),你可能會(huì)認(rèn)為是去耦電容(decoupling capacitor)造成高度輻射。在下此結(jié)論之前,先考慮一下去耦電容本身的功能。
去耦電容是為了在電路板電源層 (power plane)和接地層(ground plane)間(或線路間)的高頻環(huán)境下產(chǎn)生低阻抗路徑(low impedance path),防止高頻噪聲電壓產(chǎn)生。若有任何噪聲電壓產(chǎn)生(例如由芯片所產(chǎn)生的),都會(huì)在電容中發(fā)現(xiàn)低阻抗路徑。
這代表電容將會(huì)導(dǎo)入電流來(lái)降低噪聲電壓。因?yàn)殡娙莸墓δ芫褪菍?dǎo)入電流而控制電源層和接地層的噪聲,因此,近場(chǎng)磁探棒可以在電容間探測(cè)到較大的近場(chǎng)(greater near fields)。這并非代表電容會(huì)造成問(wèn)題,而是電容在執(zhí)行本身應(yīng)有的功能。
其次,不是所有的近場(chǎng)都會(huì)傳播。透過(guò)數(shù)學(xué)的證明方法已經(jīng)超出了本文的范圍,但非傳播式的近場(chǎng)只能儲(chǔ)存能量。使用近場(chǎng)探棒,你無(wú)法確定近場(chǎng)測(cè)量是傳播或非傳播式。這并不意味著近場(chǎng)磁探棒沒有幫助,它只是告訴我們?cè)谙陆Y(jié)論前時(shí)須先謹(jǐn)慎思考。
產(chǎn)品調(diào)試測(cè)試––外殼屏蔽
另一種很常見的調(diào)試方式是使用磁探棒在屏蔽內(nèi)四處“嗅探”干擾輻射波由何處泄出,因?yàn)楸砻骐娏?surface currents)無(wú)法穿透外殼屏蔽(shielded enclosure)的結(jié)構(gòu)縫隙,而會(huì)圍繞著這些孔隙,而磁探棒通??梢愿袦y(cè)到。目前這種測(cè)試的結(jié)果都很良好。
如果是大型屏蔽(electrically large,在頻率方面大于1/4波長(zhǎng)),并存在噪聲電流,便會(huì)產(chǎn)生駐波,這取決于外殼大小。如果頻率對(duì)應(yīng)的外殼尺寸是1/2波長(zhǎng),即使附近沒有孔隙,駐波也會(huì)在外殼達(dá)到最強(qiáng)。這種情況讓多名EMC工程師猜想輻射波也許由屏蔽的金屬墻穿透,而非透過(guò)孔隙。
由于集膚效應(yīng)(skin effect),射頻電流通常不能穿越屏蔽的金屬墻,而必須透過(guò)孔隙或是纜線/連接器而穿透出去。在此例中,磁場(chǎng)探棒的高讀取無(wú)法找出噪聲泄漏點(diǎn)。
測(cè)量可適當(dāng)?shù)匕矒崆榫w。但是,你應(yīng)當(dāng)了解測(cè)量方式,以確保你的測(cè)量結(jié)果符合原先的需求,還有做出的結(jié)論合理且符合物理原則。切勿盲目地接受測(cè)量結(jié)果,并且依此驟下結(jié)論。
總歸一句,當(dāng)去耦電容的設(shè)計(jì)適當(dāng)、且連接電感(connection inductance)最小化時(shí),其使用的好處會(huì)比壞處多。
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