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詳解DC-DC開(kāi)關(guān)電源EMI分析與優(yōu)化設(shè)計(jì)

發(fā)布時(shí)間:2018-12-13 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】現(xiàn)代電力電子系統(tǒng)通常在開(kāi)關(guān)模式下工作,產(chǎn)生了較大的電磁干擾(EMI),EMI問(wèn)題一直是電力電子工程師頭疼的問(wèn)題,解決EMI問(wèn)題是一項(xiàng)既困難又耗時(shí)的工作,本文將介紹EMI是如何產(chǎn)生、傳播以及如何優(yōu)化解決。
 
現(xiàn)代電力電子系統(tǒng)通常在開(kāi)關(guān)模式下工作,產(chǎn)生了較大的電磁干擾(EMI),EMI問(wèn)題一直是電力電子工程師頭疼的問(wèn)題,解決EMI問(wèn)題是一項(xiàng)既困難又耗時(shí)的工作,本文將介紹EMI是如何產(chǎn)生、傳播以及如何優(yōu)化解決。

常見(jiàn)縮略語(yǔ):

EMC(Electromagnetic Compatibility):電磁兼容性
EMI(Electromagnetic Interference):電磁干擾
EMS(Electromagnetic Susceptibility):電磁抗擾度
IEC(International Electrotechnical Commission):國(guó)際電工委員會(huì)
FCC(Federal Communication Commission):美國(guó)聯(lián)邦通信委員會(huì)
CISPR:國(guó)際無(wú)線電干擾特別委員會(huì)
CE:字母“CE”是法文句子的縮寫(xiě),意指歐盟
CCC(China Compulsory Certificate):中國(guó)強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證制度,又稱(chēng)3C認(rèn)證。

電磁兼容性(EMC)是指設(shè)備或系統(tǒng)在電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾能力,電磁兼容(EMC)包含電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)。其包含的測(cè)試項(xiàng)目如圖1所示。

詳解DC-DC開(kāi)關(guān)電源EMI分析與優(yōu)化設(shè)計(jì)
圖 1  EMC測(cè)試項(xiàng)

電磁干擾限制可分為兩個(gè)基本應(yīng)用范疇:

A類(lèi):適用于商業(yè)或工業(yè)裝置環(huán)境,相應(yīng)限制較為輕松。

B類(lèi):適用于家用或住宅裝置,相應(yīng)限制較為嚴(yán)格。

B類(lèi)限制約比A類(lèi)限制低10dB,即發(fā)射振幅之比約為1:3(20×log(3)≈10dB)。市場(chǎng)銷(xiāo)售的產(chǎn)品還需要滿(mǎn)足一些重要的安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。在許多國(guó)家,電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)和安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一用一個(gè)區(qū)域認(rèn)證標(biāo)志來(lái)表示,如CE標(biāo)志即歐洲認(rèn)證標(biāo)志,CCC標(biāo)志即中國(guó)強(qiáng)制認(rèn)證標(biāo)志。該標(biāo)志表示產(chǎn)品符合電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)和安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。

歷史上普遍接受的國(guó)際電磁干擾標(biāo)準(zhǔn)是CISPR-22,美國(guó)的電磁干擾標(biāo)準(zhǔn)是FCC,CISPR-22與FCC有所不同,但一般來(lái)說(shuō)如果電源符合CISPR-22標(biāo)準(zhǔn),那么它也符合FCC標(biāo)準(zhǔn)??傊瓹ISPR-22標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)成為全世界都遵守的基本標(biāo)準(zhǔn)。汽車(chē)上的電磁干擾標(biāo)準(zhǔn)是CISPR-25,相對(duì)CISPR22來(lái)說(shuō)CISPR-25標(biāo)準(zhǔn)限制值更低并且額外對(duì)FM頻段做了很?chē)?yán)的限制要求。具體傳導(dǎo)測(cè)試限制要求如圖2所示。

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圖 2  傳導(dǎo)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

如圖3 所示電磁干擾的輻射測(cè)試普遍采用天線接收法測(cè)試,相比于CISPR22來(lái)說(shuō)CISPR25額外增加了150KHz ~ 30MHz的輻射測(cè)試,這部分測(cè)試頻段覆蓋了DCDC的工作頻率范圍,是輻射測(cè)試的難點(diǎn)。另外CISPR-25輻射測(cè)試采用1M法天線距離更近,測(cè)試接收的信號(hào)更強(qiáng)。

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圖3  輻射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

對(duì)于設(shè)備來(lái)說(shuō)DCDC開(kāi)關(guān)電源是最常見(jiàn)的噪聲源,而通常又不易受干擾,所以DCDC的EMC問(wèn)題主要就是EMI問(wèn)題。以Buck電源為例,DCDC芯片開(kāi)關(guān)過(guò)程中產(chǎn)生電壓和電流的變化,包含了較快的di/dt和dv/dt噪聲分量,其開(kāi)關(guān)噪聲不僅包含開(kāi)關(guān)次和倍頻頻率段的噪聲,另外其開(kāi)關(guān)速度越低,高頻噪聲分量衰減越大。噪聲分為差模噪聲和共模噪聲,差模噪聲是LN線之間的電位差,共模噪聲是待測(cè)零部件的LN線和參考地之間的電位差。DCDC電源EMI主要來(lái)源于電流和電壓跳變,通過(guò)共模和差模的形式耦合到接收器上。

如圖4 所示是Buck開(kāi)關(guān)電源的噪聲產(chǎn)生和耦合路徑,從傳導(dǎo)路徑來(lái)說(shuō)開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的差模干擾通過(guò)輸入電容濾波后會(huì)直接傳到輸入端,共模干擾通過(guò)開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)對(duì)地的耦合再通過(guò)LISN端檢測(cè)到。從輻射的路徑來(lái)看主要是差模的功率電流回路產(chǎn)生的,當(dāng)然共模干擾也會(huì)產(chǎn)生部分輻射干擾。因此在設(shè)計(jì)電路時(shí)減小功率開(kāi)關(guān)電流回路對(duì)傳導(dǎo)輻射干擾有很大的幫助。

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圖4  DCDC噪聲源及耦合路徑

既然有了上面對(duì)EMI產(chǎn)生的原因分析,我們就可以按照如下幾點(diǎn)對(duì)EMI進(jìn)行優(yōu)化:

輸入端增加EMI濾波器

EMI濾波器可以抑制流經(jīng)LISN的差模和共模電流,這在傳導(dǎo)測(cè)試中尤其關(guān)鍵,根據(jù)對(duì)噪聲的大小的衰減比例可以計(jì)算出EMI濾波器的參數(shù)大小。常見(jiàn)的EMI濾波器參數(shù)如圖5所示。

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圖 5 常見(jiàn)EMI濾波器設(shè)計(jì)參數(shù)

輸入輸出電容位置要靠近芯片放置

在功率開(kāi)關(guān)回路中di/dt環(huán)路會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),并且磁場(chǎng)強(qiáng)度與電流和環(huán)路面積成正比關(guān)系。減小環(huán)路面積能大幅度減小對(duì)外輻射。如圖6 所示通過(guò)將輸入電容C2靠近芯片可以顯著減小磁場(chǎng)輻射程度。


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圖 6 輸入電容位置對(duì)EMI的影響

LC濾波器要與遠(yuǎn)離DCDC高頻電流環(huán)路

所有的LC濾波器都是以電感結(jié)束,并且要遠(yuǎn)離DCDC的高頻環(huán)路。防止電流環(huán)路的近場(chǎng)磁場(chǎng)效應(yīng)對(duì)輸入濾波器的影響。

對(duì)稱(chēng)設(shè)計(jì)芯片和對(duì)稱(chēng)電容設(shè)計(jì)

如圖7 所示,對(duì)稱(chēng)電容設(shè)計(jì)能明顯抵消磁場(chǎng),如果電容集成到芯片內(nèi)部的話對(duì)傳導(dǎo)和輻射的高頻干擾都能起到極大的抑制作用,MPS的MPQ4491M就是一款高度集成的車(chē)載充電芯片方案,內(nèi)部集成了電容,具有良好的EMI性能。

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圖7 對(duì)稱(chēng)電容設(shè)計(jì)

改用一體成型電感

環(huán)形電感的漏磁較大,體積也比較大,對(duì)大地也有比較大的耦合電容,因此其對(duì)外的輻射更大,如圖8所示將環(huán)形電感替換為貼片電感后整體的EMI就會(huì)下降很多。

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圖 8 環(huán)形電感對(duì)EMI的影響
 
 
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