PCIe 3.0測(cè)試與調(diào)試

泰克公司日前宣布，推出業(yè)內(nèi)針對(duì)PCI Express 3.0標(biāo)準(zhǔn)的，最靈活和最完整的自動(dòng)化發(fā)射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 一致性與調(diào)試測(cè)試解決方案。通過對(duì)BERTScope誤碼率分析儀系列的新產(chǎn)品增強(qiáng)以及PCI Express測(cè)試軟件，泰克現(xiàn)在可以為集成電路、主機(jī)和板卡設(shè)計(jì)人員提供一站式PCI Express 3.0測(cè)試解決方案。

PCI Express的每一代推出，都使得其變得更快和更復(fù)雜。在8 Gb/s的速度，PCI Express 3.0測(cè)試涉及復(fù)雜的Rx壓力條件作用 (stress conditioning)，BER一致性測(cè)試以及大量Tx一致性測(cè)試。另外，設(shè)計(jì)失敗時(shí)的調(diào)試還需要完全測(cè)試支持。憑借最新更新，泰克現(xiàn)在提供對(duì)PCI Express 3.0的物理層測(cè)試自動(dòng)化與調(diào)試的業(yè)內(nèi)最全面支持。

“PCIe3測(cè)試的許多方面——如鏈路訓(xùn)練和Tx均衡檢測(cè)——都非常復(fù)雜，對(duì)工程師提出了極大的挑戰(zhàn)”，泰克高性能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示，“通過提供強(qiáng)大的自動(dòng)化功能集，我們使復(fù)雜的PCIe3測(cè)試變得容易完成，同時(shí)確保得到更一致的結(jié)果。這意味著漫長(zhǎng)而復(fù)雜的測(cè)試——如壓力眼圖校準(zhǔn)、發(fā)射器一致性測(cè)試等——都將成為簡(jiǎn)單很多的工作了。”
 
對(duì)于PCIe3 Rx測(cè)試，PCI-SIG測(cè)試規(guī)格要求的壓力碼型生成是自動(dòng)化的，現(xiàn)在包括對(duì)時(shí)鐘倍頻和眼圖張開測(cè)試的綜合支持。另外，DUT環(huán)回控制也是自動(dòng)化的，這簡(jiǎn)化了測(cè)試過程，減少了得到測(cè)試結(jié)果的時(shí)間。支持這些功能的增強(qiáng)包括新DPP125C——其向壓力碼型添加了預(yù)加重，帶可變ISI的新BSAITS125集成式干擾合并器，以及新BSAPCI3自動(dòng)校準(zhǔn)、環(huán)回和鏈路訓(xùn)練軟件。構(gòu)成復(fù)雜Rx解決方案的其他組成部分包括一個(gè)用于共模干擾測(cè)試的泰克AFG3000任意波形/函數(shù)發(fā)生器和基于世界級(jí)CR286A系列時(shí)鐘恢復(fù)單元的PLL環(huán)路帶寬解決方案。BERTScope的這些補(bǔ)充部分消除了對(duì)第三方插件 (add-on) 的需要。

對(duì)于PCIe3 Tx測(cè)試，泰克通過將用于一致性測(cè)試的PCI-SIG SigTest實(shí)用軟件直接包括進(jìn)其泰克DSA70000系列數(shù)字示波器上的TekExpress自動(dòng)化框架增強(qiáng)了其解決方案。通過這一集成，更新后的PCE3軟件自動(dòng)化了SigTest測(cè)試的測(cè)試儀器與DUT控制、碼型驗(yàn)證、數(shù)據(jù)采集及分析，并允許對(duì)多項(xiàng)SigTest結(jié)果進(jìn)行定制報(bào)告。PCE3軟件還在一致性測(cè)試失敗時(shí)提供向調(diào)試的無(wú)縫轉(zhuǎn)變。

供貨信息

泰克PCI Express 3.0 Tx、Rx測(cè)試與調(diào)試解決方案現(xiàn)已全球供貨。