【導(dǎo)讀】什么是晶振起振問(wèn)題？晶振起振問(wèn)題就是晶振的負(fù)載電容匹配可能不合適，導(dǎo)致晶振不起振。那么引起晶振問(wèn)題的原因是什么呢？本文一位技術(shù)工程師結(jié)合自己的工作來(lái)教給大家如何分析晶振起振問(wèn)題。
晶振起振問(wèn)題，晶振的負(fù)載電容匹配可能不合適，導(dǎo)致晶振不起振。
現(xiàn)象：
系統(tǒng)工作偶爾不正常。
最近在一個(gè)項(xiàng)目中，遇到一個(gè)很奇怪的問(wèn)題。系統(tǒng)偶爾會(huì)不工作。而且跑了四個(gè)周的系統(tǒng)，中間出現(xiàn)過(guò)一次。后來(lái)不知道怎么恢復(fù)了。當(dāng)今天再次遇到，感覺(jué)這種情況，肯定是哪里有問(wèn)題，不可能是運(yùn)氣使然。
這里將問(wèn)題最終歸結(jié)到晶振上，是因?yàn)閱?wèn)題的可重復(fù)性。
在第一次出現(xiàn)時(shí)，盡管在其他地方都進(jìn)行過(guò)測(cè)量，但是沒(méi)有懷疑到晶振上，所以一直沒(méi)有將問(wèn)題再次重現(xiàn)(后來(lái)莫名系統(tǒng)恢復(fù)了正常)。
如果，問(wèn)題沒(méi)有重現(xiàn)，就無(wú)法分析問(wèn)題。因?yàn)榭赡艿牡胤教唷?/div>
而這次問(wèn)題再次出現(xiàn)時(shí)，只有當(dāng)在晶振上觸碰時(shí)，問(wèn)題得到了重現(xiàn)，因此證明跟晶振這里有問(wèn)題。
1、測(cè)試分析過(guò)程：
2、首先萬(wàn)用表測(cè)量AD輸出引腳（串行輸出，連接MCU），AD輸出端沒(méi)有轉(zhuǎn)換完成信號(hào)（一個(gè)下降沿）出現(xiàn)。
3、這個(gè)時(shí)候，如果人為將AD輸出端拉低，系統(tǒng)工作正常。
4、所以，MCU端應(yīng)該沒(méi)有出現(xiàn)異常。
5、但是，AD端很長(zhǎng)一段時(shí)間都是工作正常的，為什么突然工作出現(xiàn)了異常。
6、在用示波器測(cè)試了各個(gè)地方之后，最終懷疑到了晶振上。
7、當(dāng)將示波器探頭放到XTAL1上時(shí)，系統(tǒng)恢復(fù)正常工作。如果將探頭拿下，則系統(tǒng)不再工作。
8、由此斷定，系統(tǒng)工作異常的原因，出現(xiàn)在晶振起振上。
9、后來(lái)先將負(fù)載電容調(diào)大一些，發(fā)現(xiàn)依然無(wú)法起振。
10、之后將負(fù)載電容調(diào)小了一些，晶振起振。系統(tǒng)恢復(fù)正常工作。
注：
對(duì)于晶振引起的問(wèn)題很多時(shí)候很難發(fā)現(xiàn)，這個(gè)要十分注意。當(dāng)其他地方，都檢測(cè)過(guò)沒(méi)有之后，可能就要考慮晶振問(wèn)題了。并聯(lián)電容，接地，晶振不良率，都有可能導(dǎo)致晶振起振出現(xiàn)問(wèn)題。
相關(guān)閱讀：
