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智能高邊開關(guān)的開路檢測

發(fā)布時(shí)間:2023-06-13 來源:英飛凌 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】在英飛凌開發(fā)者論壇(Infineon Developer Community)里,智能高邊開關(guān)的負(fù)載開路檢測一直是一個(gè)熱度很高的話題。負(fù)載開路故障主要是由兩種原因引起,一種是導(dǎo)線斷裂,另一種是負(fù)載損壞。按照要求,當(dāng)汽車轉(zhuǎn)向燈斷開時(shí),需要用加倍的閃爍頻率來提示故障。而其他類型的負(fù)載開路故障則通常由OEM進(jìn)行定義,但控制單元首先要得到故障信息,而英飛凌的智能高邊芯片(PROFET)可以對開路進(jìn)行檢測并報(bào)告。


智能高邊開關(guān)的開路檢測分為開通狀態(tài)(ON state)開路檢測和關(guān)斷狀態(tài)(OFF state)開路檢測,二者都是通過內(nèi)部比較器檢測Vout,前提是V_DEN > V_DEN(H),以激活診斷功能。


(一)開通狀態(tài)(ON state)開路檢測


其中開通狀態(tài)的開路檢測比較簡單,如果DMOS導(dǎo)通時(shí)發(fā)生開路,OUT pin的電壓會抬升至Vs,此時(shí)如果V_DEN > V_DEN(H),則判定open load at ON state,IS PIN輸出I_IS <= I_IS(OFFSET)。如圖1所示。


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圖1. ON state開路狀態(tài)下電路示意圖


(二)關(guān)斷狀態(tài)(OFF state)開路檢測


關(guān)斷狀態(tài)下的開路檢測較為復(fù)雜,需要額外的外部電路進(jìn)行配合。


可在下圖2虛線中的位置添加一個(gè)外接電阻ROL。此時(shí),在DMOS關(guān)斷時(shí)發(fā)生開路,OUT pin的電壓同樣會抬升至觸發(fā)V_out > V_out(OL_OFF),被判定為open load at OFF state, IS pin輸出I_IS <= I_IS(OFFSET)。


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圖2. OFF state開路檢測外接電路配置圖(option1)


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圖3. OFF state 開路檢測波形


但隨之而來會產(chǎn)生一定的問題,比如當(dāng)DMOS導(dǎo)通,電路連接正常時(shí),外接電阻的回路中同樣會產(chǎn)生電流回路,因此我們要求ROL盡可能的大一些。第二點(diǎn),當(dāng)DMOS關(guān)斷,電路連接正常時(shí),外接電阻回路中會產(chǎn)生一定的電流,從而增加功耗甚至影響負(fù)載。所以,我們可以增加一個(gè)開關(guān)T1,在不需要關(guān)斷狀態(tài)開路檢測功能時(shí)斷開該回路。這樣只需要在關(guān)斷開路檢測時(shí)打開T1即可,其他情況下可以規(guī)避這條外接回路對電路的影響。


圖3中是只配備上拉電阻進(jìn)行關(guān)斷開路檢測時(shí)的波形,可以觀察到的一個(gè)細(xì)節(jié)是:當(dāng)智能高邊開關(guān)在關(guān)斷狀態(tài)下開路時(shí),即使不加外接電阻,OUT Pin的輸出電壓也不為0。這是由于器件中的漏電流所導(dǎo)致的;而當(dāng)負(fù)載正常連接時(shí),這里漏電流的影響就可以忽略不計(jì),后面會附上實(shí)測波形供大家參考。


需要注意的是,這種只配備外接上拉電阻和可控開關(guān)的關(guān)斷開路檢測方式也并非完美無缺,下面分析兩種異常工況, 如下圖4所示。


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圖4.  負(fù)載對電池電路和負(fù)載開路故障對比


(Short to battery: OUT pin與電池正極短路,此時(shí)電路的開斷狀態(tài)不取決于DMOS開關(guān)與否)


以24V車身系統(tǒng)為例,通過分析可以看到,兩種不同的異常工況都會在MOSFET的Source端產(chǎn)生24V的電勢。當(dāng)只使用上拉電阻時(shí),OFF狀態(tài)下的開路與對電池短路的OUT Pin電壓相同,都是接近電池電壓,我們無法區(qū)分到底是發(fā)生了哪種錯(cuò)誤。


更加完美的解決方案是使用如下圖5中的上下拉電阻配合的外接電路,當(dāng)同時(shí)使用這種組合時(shí),當(dāng)OFF狀態(tài)下開路,OUT Pin電壓為上拉電阻上的分壓。而如果發(fā)生的是對電池短路,OUT pin的電壓為電池電壓。


這樣我們就可以準(zhǔn)確得到當(dāng)前電路發(fā)生異常的具體情況。


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圖5. OFF state開路檢測外接電路配置圖(option2)


●   使用開發(fā)板BTS500xx-1LUA Arduino shield進(jìn)行高邊智能開關(guān)的開路檢測功能演示,設(shè)備連接如下:


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圖6. 開發(fā)板連接示意圖


●   該demo板原理圖如下:


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圖7. BTS500xx-1LUA Arduino shield 原理圖


其中,U1是BTS50005-1LUA,U2是BTS50010-1LUA。圖中R13是BTS50010-1LUA用于關(guān)斷狀態(tài)下開路檢測的外接電阻。其工作原理如下,通過配置外接上拉電阻可以在OFF status下檢測OUT腳的電壓;而BTS5005-1LUA的開路檢測回路,由上拉電阻(圖中R5)和下拉電阻(圖中R7)組成。


●   不同條件下的OUT Pin的電壓測試結(jié)果:


1. OFF狀態(tài)下開路,綠色波形為只配置上拉電阻的Out Pin電壓,藍(lán)色波形表示配置了上下拉電阻分壓的Out Pin電壓。得出結(jié)論:配置上拉電阻后,OFF狀態(tài)下開路,Out Pin的電壓為Vs電壓(12V),而用了分壓電阻后,Out Pin上電壓為Vs的分壓(6V).


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2. OFF狀態(tài)下開路,但不配置外接電阻,觀察到有漏電流引起的電壓。注:這個(gè)是正?,F(xiàn)象,下圖中所示,粉色波形為無任何外接電阻的電路測量結(jié)果。當(dāng)Vs=12V時(shí),BTS50010-1LUA的漏電流引起高于GND約1.37V的電壓差。


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3. OFF狀態(tài)下連接負(fù)載,發(fā)現(xiàn)外接電阻不會拉高OUT Pin上的電壓。注:圖中50mV是由Offset引起,對比發(fā)現(xiàn)當(dāng)芯片不供電時(shí)示波器仍顯示50mV,因此得出:當(dāng)OFF狀態(tài)下連接負(fù)載,OUT Pin上的電壓無限接近于GND.


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4. ON狀態(tài)下(PWM控制)突然失去負(fù)載(ON state open load),Vout無法再被拉低(Infineon Intelligent Latch)。


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作者:卜祥瑞,英飛凌技術(shù)支持中心高級工程師



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