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國(guó)內(nèi)品牌液晶電視去年出貨破4千萬(wàn)臺(tái)
2011年中國(guó)彩電品牌液晶電視出貨數(shù)據(jù)顯示，12月份中國(guó)電視品牌出貨高達(dá)566.1萬(wàn)臺(tái)，環(huán)比增長(zhǎng)34.2%；2011年出貨總量突破4000萬(wàn)臺(tái)，達(dá)到4048.2萬(wàn)臺(tái)。12月面板采購(gòu)總量達(dá)510.5萬(wàn)片，環(huán)比增長(zhǎng)率達(dá)14.7%。
2012-02-23
液晶電視 彩電 面板
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2012全球LTE手機(jī)競(jìng)爭(zhēng)激烈
今年世界各地將有100多個(gè)移動(dòng)電信運(yùn)營(yíng)商開(kāi)始LTE商業(yè)運(yùn)作，諾基亞，索尼移動(dòng)通信和中國(guó)的中興，華為等廠商都將推出LTE手機(jī)，這將加速2012年全球LTE手機(jī)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)。
2012-02-23
LTE 手機(jī)
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μPA2812T1L：瑞薩發(fā)布低損耗高效P溝道MOSFET用于筆記本電腦
先進(jìn)半導(dǎo)體解決方案之頂尖供應(yīng)商瑞薩電子宣布推出5款低損耗P-Channel金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效電晶體(MOSFET)系列產(chǎn)品，包括針對(duì)筆記型電腦鋰離子二次電池之充電控制開(kāi)關(guān)，以及AC變壓器電源供應(yīng)開(kāi)關(guān)之電源管理開(kāi)關(guān)等用途進(jìn)行最佳化的μPA2812T1L。
2012-02-23
μPA2812T1L 瑞薩 MOSFET
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色溫可調(diào)LED的封裝及性能測(cè)試
本文設(shè)計(jì)了一種新型的色溫可調(diào)LED，利用大功率LED芯片結(jié)合金屬基板封裝出了色溫可調(diào)的暖白光高顯色指數(shù)LED樣品，對(duì)其發(fā)光光譜、色溫和顯色指數(shù)隨電流的變化進(jìn)行了測(cè)試，發(fā)現(xiàn)LED 的光譜有三個(gè)峰值，色溫可從5000K 變化到3300K,涵蓋了冷色光到暖色光的范圍，顯色指數(shù)可從68 增加到90 以上，能夠滿足室...
2012-02-23
色溫可調(diào)LED LED 封裝
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PCB電路板溫升因素分析及散熱方式探討
電子設(shè)備工作時(shí)產(chǎn)生的熱量，使設(shè)備內(nèi)部溫度迅速上升，若不及時(shí)將該熱量散發(fā)，設(shè)備會(huì)持續(xù)升溫，器件就會(huì)因過(guò)熱失效，電子設(shè)備的可靠性將下降。因此，對(duì)電路板進(jìn)行散熱處理十分重要。本文將在分析引起印制電路板溫升的因素的基礎(chǔ)上，介紹幾種實(shí)用的電路板散熱方式。
2012-02-23
PCB 電路板 散熱 溫升
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PCB電路板溫升因素分析及散熱方式探討
電子設(shè)備工作時(shí)產(chǎn)生的熱量，使設(shè)備內(nèi)部溫度迅速上升，若不及時(shí)將該熱量散發(fā)，設(shè)備會(huì)持續(xù)升溫，器件就會(huì)因過(guò)熱失效，電子設(shè)備的可靠性將下降。因此，對(duì)電路板進(jìn)行散熱處理十分重要。本文將在分析引起印制電路板溫升的因素的基礎(chǔ)上，介紹幾種實(shí)用的電路板散熱方式。
2012-02-23
PCB 電路板 散熱 溫升
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PCB電路板溫升因素分析及散熱方式探討
電子設(shè)備工作時(shí)產(chǎn)生的熱量，使設(shè)備內(nèi)部溫度迅速上升，若不及時(shí)將該熱量散發(fā)，設(shè)備會(huì)持續(xù)升溫，器件就會(huì)因過(guò)熱失效，電子設(shè)備的可靠性將下降。因此，對(duì)電路板進(jìn)行散熱處理十分重要。本文將在分析引起印制電路板溫升的因素的基礎(chǔ)上，介紹幾種實(shí)用的電路板散熱方式。
2012-02-23
PCB 電路板 散熱 溫升
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適用于SAR ADC的CMOS比較器的設(shè)計(jì)分析
比較器廣泛應(yīng)用于從模擬信號(hào)到數(shù)字信號(hào)的轉(zhuǎn)換過(guò)程當(dāng)中。在模一數(shù)轉(zhuǎn)換過(guò)程中，經(jīng)過(guò)采樣的信號(hào)經(jīng)過(guò)比較器以決定模擬信號(hào)輸出的數(shù)字值。比較器可以比較一個(gè)模擬信號(hào)和另外一個(gè)模擬信號(hào)或參考信號(hào)的大小。比較器大都采用開(kāi)環(huán)模式，這種開(kāi)環(huán)結(jié)構(gòu)不必對(duì)比較器進(jìn)行補(bǔ)償，同時(shí)，未進(jìn)行補(bǔ)償?shù)谋容^器可以獲得...
2012-02-23
ADC CMOS 比較器
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適用于SAR ADC的CMOS比較器的設(shè)計(jì)分析
比較器廣泛應(yīng)用于從模擬信號(hào)到數(shù)字信號(hào)的轉(zhuǎn)換過(guò)程當(dāng)中。在模一數(shù)轉(zhuǎn)換過(guò)程中，經(jīng)過(guò)采樣的信號(hào)經(jīng)過(guò)比較器以決定模擬信號(hào)輸出的數(shù)字值。比較器可以比較一個(gè)模擬信號(hào)和另外一個(gè)模擬信號(hào)或參考信號(hào)的大小。比較器大都采用開(kāi)環(huán)模式，這種開(kāi)環(huán)結(jié)構(gòu)不必對(duì)比較器進(jìn)行補(bǔ)償，同時(shí)，未進(jìn)行補(bǔ)償?shù)谋容^器可以獲得...
2012-02-23
ADC CMOS 比較器
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