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干貨

寄生電容一般是指電感，電阻，芯片引腳等在高頻情況下表現(xiàn)出來的電容特性。實(shí)際上，一個(gè)電阻等效于一個(gè)電容，一個(gè)電感，和一個(gè)電阻的串聯(lián)，在低頻情況下表現(xiàn)不是很明顯，而在高頻情況下，等效值會增大，不能忽略。在計(jì)算中我們要考慮進(jìn)去。ESL就是等效電感，ESR就是等效電阻。不管是電阻，電容，電感，還是二極管，三極管，MOS管，還有IC，在高頻的情況下我們都要考慮到它們的等效電容值，電感值。

功率開關(guān)寄生電容用于磁芯去磁檢測

在工作于自激振蕩模式的SMPS中，需要檢測磁芯的完全去磁狀態(tài)。去磁檢測的最新技術(shù)基于對與變壓器主繞組耦合的輔助繞組的使用。此繞組可對磁芯實(shí)際去磁后出現(xiàn)的零電壓進(jìn)行檢測(ZCD)。在準(zhǔn)諧振工作中，重新啟動新一輪導(dǎo)通周期的最佳時(shí)機(jī)位于功率MOSFET漏極電壓的"谷點(diǎn)"處。詳細(xì)閱讀>>

SiC MOSFET和Si MOSFET寄生電容在高頻電源中的損耗對比

富昌電子（Future Electronics）一直致力于以專業(yè)的技術(shù)服務(wù)，為客戶打造個(gè)性化的解決方案，并縮短產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期。在第三代半導(dǎo)體的實(shí)際應(yīng)用領(lǐng)域，富昌電子結(jié)合自身的技術(shù)積累和項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)，落筆于SiC相關(guān)設(shè)計(jì)的系列文章。希望以此給到大家一定的設(shè)計(jì)參考，并期待與您進(jìn)一步的交流。詳細(xì)閱讀>>

漏電流和寄生電容引起的DRAM故障識別

從20nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)開始，漏電流一直都是動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(DRAM)設(shè)計(jì)中引起器件故障的主要原因。即使底層器件未出現(xiàn)明顯的結(jié)構(gòu)異常，DRAM設(shè)計(jì)中漏電流造成的問題也會導(dǎo)致可靠性下降。漏電流已成為DRAM器件設(shè)計(jì)中至關(guān)重要的一個(gè)考慮因素。詳細(xì)閱讀>>

寄生電容對串聯(lián)諧振電容器充電電源特性的影響

本文研究了理想串聯(lián)諧振電容器充電電源的電流特性和實(shí)際串聯(lián)諧振電容器充電電源的電流特性，分析了充電系統(tǒng)中高壓變壓器和高壓整流二極管的寄生參數(shù)的影響，采用等值電路來描述變壓器和二極管中復(fù)雜的寄生電容，并且可以通過試驗(yàn)來測得，指出由于變壓器和二極管寄生電容的存在，使所設(shè)計(jì)的高壓串聯(lián)諧振充電電源變成了一個(gè)高壓串并聯(lián)諧振充電電源，其充電電流并不恒定。詳細(xì)閱讀>>

電容傳感器寄生電容干擾的產(chǎn)生原因及消除方法

電容式傳感器具有結(jié)構(gòu)簡單，靈敏度高，溫度穩(wěn)定性好，適應(yīng)性強(qiáng)，動態(tài)性能好等一系列優(yōu)點(diǎn)，目前在檢測技術(shù)中不僅廣泛應(yīng)用于位移、振動、角度、加速度等機(jī)械量的測量，還可用于液位、壓力、成份含量等熱工方面的測量中。但由于電容式傳感器的初始電容量很小，一般在皮法級，而連接傳感器與電子線路的引電纜電容、電子線路的雜散電容以及傳感器內(nèi)極板與周圍導(dǎo)體構(gòu)成的電容等所形成的寄生電容卻較大，不僅降低了傳感器的靈敏度，而且這些電容是隨機(jī)變化的，使得儀器工作很不穩(wěn)定，從而影響測量精度...詳細(xì)閱讀>>

一文讀懂：寄生電容

X9C102,X9C103,X9C104是美國Xicor公司的高精度數(shù)字電位器，電位器的阻值和型號的后綴數(shù)字相同，分別是1k(102), 10k(103),100k(104)等。詳細(xì)閱讀>>

經(jīng)典案例

如何妙用二極管減少信號線上的寄生電容

二極管以其單向?qū)щ娞匦?，在整流開關(guān)方面發(fā)揮著重要的作用；其在反向擊穿狀態(tài)下，在一定電流范圍下起到穩(wěn)壓效果。令人意外的是，利用二極管的反偏壓結(jié)電容，能夠有效地減少信號線上的接入寄生電容，這里將近一步討論這個(gè)運(yùn)用。詳細(xì)閱讀>>

寄生電容耦合到電源：如何避免傳導(dǎo)EMI問題

電磁干擾EMI中電子設(shè)備產(chǎn)生的干擾信號是通過導(dǎo)線或公共電源線進(jìn)行傳輸，互相產(chǎn)生干擾稱為傳導(dǎo)干擾。傳導(dǎo)干擾給不少電子工程師帶來困惑，如何解決傳導(dǎo)干擾？這里，我們先著重討論當(dāng)寄生電容直接耦合到電源輸入電線時(shí)會發(fā)生的情況。詳細(xì)閱讀>>

MOSFET的寄生電容是如何影響其開關(guān)速度的？

我們應(yīng)該都清楚，MOSFET 的柵極和漏源之間都是介質(zhì)層，因此柵源和柵漏之間必然存在一個(gè)寄生電容CGS和CGD，溝道未形成時(shí)，漏源之間也有一個(gè)寄生電容CDS，所以考慮寄生電容時(shí)，MOSFET 的等效電路就成了圖 2 的樣子了。詳細(xì)閱讀>>

實(shí)際上,由于頻率的不斷提高,致使引線寄生電感、寄生電容的影響愈加嚴(yán)重,對器件造成更大的電應(yīng)力(表現(xiàn)為過電壓、過電流毛刺)。為了提高系統(tǒng)的可靠性,有些制造商開發(fā)了"用戶專用"功率模塊(ASPM),它把一臺整機(jī)的幾乎所有硬件都以芯片的形式安裝到一個(gè)模塊中,使元器件之間不再有傳統(tǒng)的引線連接,這樣的模塊經(jīng)過嚴(yán)格、合理的熱、電、機(jī)械方面的設(shè)計(jì),達(dá)到優(yōu)化完美的境地。