
如何測(cè)量MLCC SMT電容的電容值?
發(fā)布時(shí)間:2019-10-22 責(zé)任編輯:xueqi
【導(dǎo)讀】許多客戶(hù)想要自己測(cè)試他們收到的片式多層陶瓷電容(MLCC),以驗(yàn)證其電容值。但測(cè)試結(jié)果可能不盡人意。那么,如何測(cè)量MLCC SMT電容的電容值?
其原因可能有以下幾點(diǎn):
1. 在測(cè)試中,未正確進(jìn)行測(cè)量或未在指定的測(cè)量條件內(nèi)進(jìn)行測(cè)量.
2. 測(cè)試中所用的儀表設(shè)置可能不正確,或者使用的測(cè)量設(shè)備不足以準(zhǔn)確測(cè)量MLCC。
3. 這些物料不應(yīng)包含在所列的規(guī)格范圍中——點(diǎn)擊這里獲取更多信息。
以下是我們建議的測(cè)試步驟和檢查清單,以幫助工程師明確他們?cè)跍y(cè)量過(guò)程中需要注意的內(nèi)容。
第 1 部分:測(cè)量要求
測(cè)量頻率和電壓對(duì)于正確測(cè)量陶瓷電容的值而言是非常重要的。請(qǐng)查看廠商和系列,并在規(guī)格書(shū)中找到你的電容,以確認(rèn)所需的測(cè)量頻率和電壓。
[建議的檢查清單]
測(cè)量頻率:_______________________ Hz
測(cè)量電壓:_______________________ V
第 2 部分:測(cè)量設(shè)備要求和設(shè)置
由于大多數(shù)萬(wàn)用表無(wú)法進(jìn)行配置以滿(mǎn)足某個(gè)電容的特定測(cè)量條件,因此通常使用LCR表來(lái)測(cè)量MLCC電容值。盡量使用測(cè)量夾具,以便在測(cè)量過(guò)程中保持樣品的穩(wěn)定性。然后打開(kāi)LCR表的自動(dòng)電平控制 (ALC) 功能。

圖1:打開(kāi)ALC后,電壓電平顯示屏上就會(huì)出現(xiàn)“*”符號(hào)(了解為什么要打開(kāi)ALC,點(diǎn)擊這里)
[建議的檢查清單]
是否使用夾具(是或否):_______
是否打開(kāi)自動(dòng)電平控制(ALC)(是或否):_______
第 3 部分:加熱處理(去老化)
由于物理結(jié)構(gòu)的原因,2類(lèi)(高介電常數(shù))MLCC電容值會(huì)隨著時(shí)間的推移而逐漸減少。該屬性稱(chēng)為電容的“老化” 現(xiàn)象。這就是為什么客戶(hù)有時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)其電容的電容值低于對(duì)應(yīng)的規(guī)格。一般來(lái)說(shuō),在150℃(+0/-10℃)下經(jīng)加熱處理(烘烤)1小時(shí),并在室溫下冷卻24小時(shí)(+/-2小時(shí))后,電容值可以恢復(fù)到所述規(guī)格。
因此在測(cè)量電容值之前,應(yīng)在150℃+0/-10℃下加熱電容1小時(shí),并在環(huán)境空氣中將其冷卻24±2小時(shí)。(了解為什么只有2類(lèi)電容需要去老化,可點(diǎn)擊這里)
[建議的檢查清單]
哪一類(lèi)MLCC(1類(lèi)-C0G或NP0/ 2類(lèi)-除C0G或NP0以外的其他電容):_______
該樣品是否在150℃+0/-10℃下加熱(烘烤)1小時(shí),并在環(huán)境溫度中保持冷卻24±2小時(shí)?(是或否):_______
來(lái)源: Digi-Key
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