- 能夠在高達(dá)67 GHz 的頻率上建模
- 精確的非線(xiàn)性測(cè)量
- 無(wú)線(xiàn)通信
安捷倫科技公司日前宣布推出 67 GHz PNA-X 非線(xiàn)性矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，進(jìn)一步擴(kuò)展了其屢獲殊榮的 PNA-X 系列。全新的 67-GHz 相位參考校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件也已上市，可配置為與 67-GHz PNA-X NVNA 結(jié)合使用。
借助這個(gè)硬件，設(shè)計(jì)人員不僅能夠在高達(dá) 67 GHz 的頻率上輕松、精確地完成元器件表征和建模，還能夠測(cè)量 X 參數(shù)，從而在極高頻率和寬帶寬范圍內(nèi)對(duì)線(xiàn)性和非線(xiàn)性元器件特性進(jìn)行精確建模。
在 10 月 11 日至 13 日于英國(guó)曼徹斯特市曼徹斯特中心舉行的歐洲微波周（G301 展位）上，安捷倫將展示全新 67-GHz PNA-X NVNA、相位參考校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件及其它無(wú)線(xiàn)通信產(chǎn)品與服務(wù)。
Agilent NVNA 及先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)軟件是業(yè)界首個(gè)設(shè)計(jì)非線(xiàn)性元器件的測(cè)量和仿真環(huán)境，能夠?qū)Ψ蔷€(xiàn)性器件的特性進(jìn)行最深入的分析，因而對(duì)于研究最新射頻技術(shù)的科學(xué)家和設(shè)計(jì)當(dāng)今高性能有源器件的工程師尤其有用。用戶(hù)使用 NVNA 可以測(cè)量 X 參數(shù)。X 參數(shù)是確定性高頻率設(shè)計(jì)非線(xiàn)性網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的一個(gè)新類(lèi)別，可用于表征元器件的線(xiàn)性和非線(xiàn)性特性。
全新 67-GHz NVNA 可使工程師在極寬的頻率帶寬內(nèi)進(jìn)行高頻非線(xiàn)性測(cè)量。業(yè)界首款 67-GHz 相位參考校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件與 NVNA 結(jié)合使用，能夠在高達(dá) 67 GHz 的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行精確的非線(xiàn)性測(cè)量,測(cè)量結(jié)果可溯源到美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）的標(biāo)準(zhǔn)。相位參考校準(zhǔn)件使用一定頻率范圍內(nèi)已知的可溯源到 NIST的相位關(guān)系生成 10 MHz ～ 67 GHz 的梳狀波信號(hào)，對(duì) NVNA 進(jìn)行校準(zhǔn)，NVNA 因此可以在高達(dá) 67 GHz 的頻率范圍內(nèi)測(cè)量器件的非線(xiàn)性特性。
這一功能可實(shí)現(xiàn)在高達(dá) 67 GHz 的頻率范圍內(nèi)精確測(cè)量和預(yù)測(cè)諧波與失真，從而幫助用戶(hù)對(duì)有源元器件（例如發(fā)射和接收模塊）進(jìn)行表征和 X 參數(shù)建模。T/R 模塊通常是在 20-GHz 基頻范圍內(nèi)工作，包含功率放大器、低噪聲放大器和混頻器。
在表征模塊的非線(xiàn)性特性時(shí)，需要在三次諧波（60 GHz）上進(jìn)行測(cè)量，一般通過(guò)變頻器將 65-GHz 信號(hào)下變頻為 500 MHz 中頻信號(hào)。通過(guò)使用 67-GHz NVNA，工程師能夠?qū)ο伦冾l信號(hào)的幅度、交叉頻率相位關(guān)系以及在寬頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生的失真進(jìn)行精確表征。他們還可使用 X 參數(shù)在安捷倫先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)（提供完整的系統(tǒng)設(shè)計(jì)能力）中對(duì)高頻上（下）變頻器和低噪聲放大器進(jìn)行測(cè)量和建模。
安捷倫副總裁兼元器件測(cè)試事業(yè)部總經(jīng)理 Gregg Peters 表示：“在設(shè)計(jì)用于航空航天與國(guó)防應(yīng)用的線(xiàn)性系統(tǒng)解決方案時(shí)，精確測(cè)量和降低高頻元器件的非線(xiàn)性特性尤為重要。安捷倫 67-GHz 相位參考校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件與 NVNA 提供元器件表征能力和 X 參數(shù)，能夠快速輕松、極其精確地對(duì)非線(xiàn)性特性進(jìn)行測(cè)量和建模。NVNA 具有全面的匹配校正、精確的測(cè)量幅度以及與交叉頻率相關(guān)的相位信息，從而為非線(xiàn)性元器件特性的精確測(cè)量和深入分析確立了新的標(biāo)準(zhǔn)。”
