全球電子設(shè)計創(chuàng)新領(lǐng)先企業(yè)Cadence設(shè)計系統(tǒng)公司今天宣布推出用于實現(xiàn)電學(xué)感知設(shè)計的Virtuoso®版圖套件，它是一種開創(chuàng)性的定制設(shè)計方法，能提高設(shè)計團隊的設(shè)計生產(chǎn)力和定制IC的電路性能。這是一種獨特的在設(shè)計中實現(xiàn)電學(xué)驗證功能，讓設(shè)計團隊在創(chuàng)建版圖時即可監(jiān)控電學(xué)問題，而不用等到版圖完成才能驗證其是否滿足最初設(shè)計意圖。Virtuoso版圖套件EAD功能在為工程師們縮短多達(dá)30%的電路設(shè)計周期的同時，還可優(yōu)化芯片尺寸和性能。

采用這種創(chuàng)新的全新技術(shù)，工程師們能實時地從電學(xué)方面分析、模擬和驗證互連線決定，從而在電學(xué)上建立時便正確的版圖。這種實時的可見性讓工程師們減少了保守的設(shè)計行為——或者“過度設(shè)計”——這些行為對芯片性能和面積有負(fù)面影響。

Virtuoso版圖套件EAD可提供：

• 從運行于Virtuoso模擬設(shè)計環(huán)境的仿真中捕獲電流和電壓，并將這些電學(xué)信息傳送給版圖環(huán)境的能力。
• 讓電路設(shè)計師能設(shè)置電學(xué)約束條件（例如匹配的電容和電阻）、并允許版圖工程師實時觀察這些約束條件是否得到滿足的管理功能。
• 一個在版圖被創(chuàng)建時即可對它進(jìn)行快速評估、并提供設(shè)計中電學(xué)視圖來進(jìn)行實時分析和優(yōu)化的、內(nèi)置的互連線寄生參數(shù)提取引擎。
• 電遷移（EM）分析，在畫版圖時如果產(chǎn)生任何電遷移問題即提醒版圖工程師注意。
• 部分版圖再仿真，有助于防止錯誤被深藏于密布的版圖，從而盡可能減少重新設(shè)計，減少“過度設(shè)計”的需要。
• 電路設(shè)計師與版圖設(shè)計工程師之間更高程度的協(xié)作，以實現(xiàn)電學(xué)上從建立起即正確的版圖，而不管設(shè)計團隊成員身在何處。

“Virtuoso版圖套件EAD表明我們在自動化定制設(shè)計方面前進(jìn)了一大步，通過對電學(xué)問題更高的實時可見度，讓版圖工程師與電路工程師之間能進(jìn)行更高效的協(xié)作，”Cadence主管硅實現(xiàn)部門研發(fā)的公司高級副總裁Tom Beckley表示。“EAD凸顯了我們對發(fā)展Virtuoso平臺的重視，確保它能滿足無數(shù)依靠它來處理復(fù)雜設(shè)計難題的工程師們的需要。”